中新苏州网4月24日电：(程燕)第五届中国测试学术会议将于5月21日至23日在苏州国际科技园举行。会议将围绕“加强学术界与工业界交流，促进测试技术发展”的主题，邀请国际、国内顶级专家汇聚苏州开展高层次的学术交流。

　　苏州是中国半导体产业的重镇，目前就有集成电路产业的相关企业100多家，年产值近300亿人民币。特别是苏州工业园区，经过十多年的发展，已经形成了IC设计、晶元制造、封装测试等完整的产业链，目前以占全国十万分之三的土地，创造了全国约16%的集成电路产业产值，仅次于上海。

　　与此同时，该苏州市的集成电路产业已经形成了每年50%左右的增长势头，良好的国际化制造业基础为IC设计和研发提供了丰沃的土壤。目前，苏州国际科技园已集聚了德国英飞凌、韩国三星半导体等30多家IC设计企业入驻，占苏州IC设计企业90%。成为长三角IC设计领域的研发高地。

　　此次代表中国测试行业最高水准的学术会议放在苏州举行，表明了苏州的IC学术水平正在得到全国的重视。

　　本届测试大会的筹办方苏州中科集成电路设计中心，成立于2003年8月8日，是苏州市政府和中国科学院计算所联合成立的非赢利性机构，中心70%以上的员工拥有博士或硕士学位，多数高层具备丰富的企业或产业化经验，重要骨干力量来自北京或海外。中心为龙芯一号CPU完成了集成电路物理设计，并与梦兰集团共同发起成立了龙芯产业化基地。经过多年发展，中心已成为长三角地区水平最高的IC设计平台之一。

　　本届测试大会筹备期间，得到了学术界和工业界的热情支持，工业界ATE厂商Teradyne(上海)、Verigy(上海)，IC设计公司Freescale(苏州)等都表示了对大会的浓厚兴趣，积极报名参与CTC2008学术大会。

　　据介绍，自大会面向社会发出征文邀请后，截至2008年2月底，大会共收到来自数百所高校、研究所以及企业代表论文140多篇。经过大会程序委员会的重重筛选，其中的130多篇的专业学术论文将入编第五届中国测试学术会议论文集。其中部分优秀论文将推荐到《计算机辅助设计与图形学学报》和《计算机研究与发展》EI源期刊。

　　本次大会为期3天，参会的200多位专家学者来自中国科学院、清华大学、南京大学、东南大学等国内外著名高校以及研究院所。

　　【背景资料】中国测试学术会议(China Test Conference)是由中国计算机学会举办的专业学术会议，会议范围包括，器件、电路板、系统的电子测试；硬/软件的设计验证、测试、诊断、失效分析；可信计算和信息安全。自2000年起，每两年召开一次(逢双年)，已举办四届，分别在北京、上海、长沙、北戴河举行。

　　编缉：周建琳